紫外廣義光譜橢偏儀針對科研和工業環境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補償器、利用步進補償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。

產品型號：BX-G102

更新時間：2024-05-14

廠商性質：生產廠家

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關鍵詞：

光譜橢偏儀紫外可見光譜儀器紫外光譜分析儀橢偏儀測試橢偏儀檢測

產品用途：紫外廣義光譜橢偏儀

BX-G102系列針對科研和工業環境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補償器、利用步進補償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。

儀器特點：紫外廣義光譜橢偏儀

1. *的雙旋轉補償器測量技術：可測量樣品的Muller矩陣的全部16個元素

2. 秒級的全光譜測量速度：全光譜測量典型10秒

3. 原子層量級的檢測靈敏度：可以測量單原子層

4. 視頻式樣品對準：精確完成樣品對準，并方便觀察，減小人為誤差

5. 入射角和反射角可以單獨調節：獨立多入射角度結構設計，增強了儀器測量的靈活性。適用于反射、透射、散射樣品的測量場合

6. 一鍵式儀器操作：對于常規操作，只需要鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求

技術參數：

上一個：BX-G103激光橢偏儀

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