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產(chǎn)品分類
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1630產(chǎn)品描述
1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品型號(hào)
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2028產(chǎn)品描述
300KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動(dòng)實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集.
產(chǎn)品型號(hào)
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1641產(chǎn)品描述
500KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動(dòng)實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集.
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1224C廠商性質(zhì)
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1433產(chǎn)品描述
1000KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動(dòng)實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集.
產(chǎn)品型號(hào)
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1319產(chǎn)品描述
300KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；提供數(shù)據(jù)和報(bào)表生成管理.自動(dòng)實(shí)時(shí)樣品厚度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫濕度采集.
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